基于注意力机制和多尺度特征融合的绝缘子缺陷检测方法

马学森, 马吉, 蒋功辉, 许雪梅, 周天保

Insulator defect detection method based on attention mechanism and multi⁃scale feature fusion

Xuesen Ma, Ji Ma, Gonghui Jiang, Xuemei Xu, Tianbao Zhou

表3 本文算法和其他对比算法在APID数据集上的实验结果对比

Table 3 Experimental results of our algorithm and other algorithms on APID dataset

方法 骨干网 AP FPS AMF⁃YOLOv5l CSPDarkNet⁃53 93.4% 25.4 Faster R⁃CNN VGG⁃16 85.6% 5.1 SSD VGG⁃16 86.3% 17.3 RetinaNet ResNet⁃50 87.5% 15.4 DetectoRS ResNet⁃50 90.6% 3.3 YOLOv5l CSPDarkNet⁃53 88.2% 27.7 TYOLOv5 CSPDarkNet⁃53 91.3% 21.2