基于注意力机制和多尺度特征融合的绝缘子缺陷检测方法

马学森, 马吉, 蒋功辉, 许雪梅, 周天保

Insulator defect detection method based on attention mechanism and multi⁃scale feature fusion

Xuesen Ma, Ji Ma, Gonghui Jiang, Xuemei Xu, Tianbao Zhou

图4 网格化示意图 （a） dilation rate均为2；（b） dilation rate分别为1，2，3

Fig.4 Schematic diagram of gridding