栅介质材料及尺寸对薄膜晶体管性能影响研究

裴智慧,秦国轩

南京大学学报(自然科学版) ›› 2019, Vol. 55 ›› Issue (5) : 740-749.

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南京大学学报(自然科学版) ›› 2019, Vol. 55 ›› Issue (5) : 740-749. DOI: 10.13232/j.cnki.jnju.2019.05.005

栅介质材料及尺寸对薄膜晶体管性能影响研究

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Investigation on the influence of gate dielectric material and size onthin⁃film transistors performance

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2019, 55(5): 740-749 https://doi.org/10.13232/j.cnki.jnju.2019.05.005
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2019, 55(5): 740-749 https://doi.org/10.13232/j.cnki.jnju.2019.05.005
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{{article.reference}}

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{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
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